TFA – Linseis

TFA Thin Film Analyzer di Linseis è lo strumento perfetto per caratterizzare un’ampia gamma di campioni di film sottili in modo estremamente comodo e veloce. È un sistema singolo e autonomo, facile da usare, e fornisce risultati di altissima qualità utilizzando un design di misurazione in attesa di brevetto.

Le proprietà fisiche dei film sottili differiscono da quelle dei materiali sfusi, poiché gli effetti parassiti della superficie sono molto più forti a causa delle dimensioni più piccole e degli elevati rapporti di aspetto!

• Influenza crescente della dispersione superficiale (a)
• Ulteriore dispersione dei confini (b)
• Confinamento quantistico per strati molto sottili (c)